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論文

X-ray topography of piezoelectric La$$_3$$Ta$$_{0.5}$$Ga$$_{5.5}$$O$$_{14}$$ crystal grown by Czochralski method

米田 安宏; 水木 純一郎; 武田 博明*; 塩嵜 忠*

IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 55(5), p.971 - 974, 2008/05

La$$_3$$Ta$$_{0.5}$$Ga$$_{5.5}$$O$$_{14}$$(通称LTG)のトポグラフィを行った。ランガサイト系の圧電体結晶は非常に良い結晶性を示すことが知られているが、ランガサイト系の単結晶の評価を行った。この研究の目的は、圧電体結晶をX線のチョッパーとして使用するための結晶性の評価である。現在、コマーシャルベースで販売されているランガサイト(LGS)を凌ぐような結晶は見つけることはできなかった。しかし、高エネルギーX線を用いたトポグラフィはランタンのような重い元素の含まれている材料でも、バルクライクな結晶性の評価ができることを示すことができた。

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